شفافیت القاء شده بصورت الکترومغناطیسی ( EIT ) ، که یک مورد خاص از تشدید فانو است ، ازتداخل مخرب کوانتومی بین دومسیر تحریک مختلف ( دو باریکه ی نور یا لیزر ) ، دریک سیستم اتمی چند سطحی ناشی میشود. باتوجه به عملکرد درخشان تداخل دو میدان الکترومغناطیسی( EIT )، دارای کاربردهای بالقوه نظیر کندسازی نور ذخیره سازی اطلاعات می باشد. در این تحقیق از یک اثر مشابه به نام شفافیت القائی پلاسمونی (PIT) استفاده می شود. مدهای پلاسمونی دارای دو حالت روشن وتاریک می باشند، بسته به نوع جفت شدگی نور فرودی با مدهای روشن وتاریک مد های پلاسمونیکی، برهم کنش اتفاق خواهد افتاد یا برهم کنشی رخ نخواهد داد. اندر کنش مد روشن با نور ورودی، دارای ضریب کیفیت پایینی می باشد ولی برخلاف مد روشن ، مد تاریک با نور فرودی برهم کنش نمیکند و دارای ضریب کیفیت بالایی می باشد. با کنار هم قرار دادن مدهای تاریک و روشن ، برهم کنش قوی بین مدها صورت میگیرد که مشابه پدیده EIT است. از مهمترین نتایج روش PIT کنترل جذب در محدوده فرکانسی و کاهش سرعت گروه می باشد. اخیرأ شفافیت ناشی از پلاسمون ( PIT ) به طور مداوم به عنوان رقیب برای EIT در سیستمهای پلاسمونیک قرار می گیرد. تداخل مخرب و یا سازنده بین حالت روشن و حالت تاریک پدیده (PIT )، با کمک فرامواد و موجبرهای پلاسمونیکی فراهم می شود. برای سیستمهای PIT کاربردهایی نظیر فیلترهای نوری ، گیت های نوری، رابط های نوری، حسگرها، کند کننده های نوری و همچنین سوئیچهای نوری امکان پذیر می باشد.
